- Sonde de mesure pour l’analyse des circuits en technologie GaN et SiC

Avec la sonde de mesure DL-ISO haute tension à isolation optique, connectée aux oscilloscopes haute définition HDO de la société, Teledyne LeCroy propose un dispositif de test complet qui vise à caractériser avec précision les systèmes d’alimentation fondés sur des circuits de puissance à base de nitrure de gallium (GaN) et de carbure de silicium (SiC). Ces technologies permettent de concevoir des semi-conducteurs qui commutent jusqu'à dix fois plus vite que ceux à base de silicium, autorisant les alimentations à gagner en poids, taille et efficacité.

- Bande passante de la sonde jusqu’à 1 GHz, adaptée aux exigences de mesure des temps de montée de 1 ns des semi-conducteurs GaN

- Sonde affichant une précision de 1,5% lorsqu’elle est combinée avec les oscilloscopes HDO de Teledyne LeCroy qui numérisent les signaux avec une résolution de 12 bits à une vitesse d’échantillonnage jusqu’à 20 Géch./s

- Logiciel Power-Device associé fournissant des outils d’analyse des systèmes d’alimentation

- Réalisation automatique d’une série de mesures classiques, comme les pertes de commutation Jedec, les superpositions à code couleur…

- Les sondes de la gamme DL-ISO, selon les modèles, affichent des bandes passantes de 350 MHz, 700 MHz et 1 GHz