- Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel

Afin d’accélérer le processus de conformité électromagnétique de systèmes électroniques, le récepteur EMI (interférences électromagnétiques émises) EMI PXE N9048B de Keysight Technologies intègre désormais des capacités de numérisation TDS (Time Domain Scan) et RTS (Real Time Scan). L’instrument procure une visibilité totale du signal en affichant simultanément les domaine fréquentiel et temporel des signaux ainsi que le spectrogramme grâce à trois détecteurs CEM....

- Trois gammes de fréquences d’analyse jusqu'à 26,5 GHz

- Capture et analyse de signal sans interruption dans une bande passante maximale de 350 MHz

- Sensibilité élevée pour la détection de petits signaux proches du niveau de bruit dans les mesures d'émissions rayonnées

- Conformité avec les normes CISPR 16-1-1:2015 et MIL-STD-461G (2015)

- Réduction du temps de balayage et de test du récepteur de plusieurs heures à plusieurs secondes

 

Liste des produits de l'entreprise
- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données - Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes
- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes - Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test
- Châssis au standard PXIe - Oscilloscopes économiques et pédagogiques
- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY - Système de mesure de tests paramétriques
- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles - Microsonde pour oscilloscopes haute performance
- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré - Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel
- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF - Système PXIe de test de bruit de phase
- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles - Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5
- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation - Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision
- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile - Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion
- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un” - Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés
- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel - Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés - Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques
- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz