Mil-aéro : Abaco Systems embarque un SoC Xeon D sur une carte OpenVPX 3U

Abaco Opne VPX Xeon

Abaco Systems, l'entité qui regroupe désormais les ex-activités liées aux cartes et systèmes embarqués industriels de l’américain GE, annonce une carte durcie au standard OpenVPX et au format 3U qui est architecturée ...autour du récent circuit SoC Xeon D-1500 d’Intel, gravé en technologie 14 nm, dans une version à 12 cœurs de processeurs (disponible depuis la fin de l’année dernière) ou une déclinaison à 16 cœurs (disponible au premier trimestre de cette année). Référencée SBC347, cette carte est spécifiquement destinée aux applications réclamant de très hautes performances de calcul ( HPEC, High Performance Embedded Computing) au sein de systèmes embarqués dans des environnements sévères comme les systèmes de contrôle/commande militaires, d’analyse de signaux ISR, de gestion de radars/sonars…

La carte accueille une capacité de stockage élevée avec 32 Go de mémoire DDR4 dotée d’un mécanisme de correction d’erreur et fonctionnant à 2 MHz, de 32 Go de mémoire flash Nand et de 32 Mo de flash pour le Bios, avec un système de sauvegarde sur flash de 16 Mo. Pour les stratégies de sécurisation des données, la plate-forme intègre un FPGA sur lequel les algorithmes de chiffrement et de protection contre les attaques de type DPA (Differential Power Analysis) peuvent être implantés. Une caractéristique qui complète les mécanisme de sécurité fournis par le SoC Xeon à travers un composant TPM (Trusted Platform Module) capable d’exécuter un environnement sécurisé propre à Intel (TCE, Trusted Execution Technology).

Côté interfaces, la carte apporte des liens PCI Express, avec un total de 20 ports PCIe x4 et x16 disponibles via les connecteurs P1 et  P2. On y trouve aussi des connexions USB, SATA, Gigabit Ethernet et 10Gig Ethernet.

Côté logiciel, sont supportés les systèmes d’exploitation Open Linux (Fedora), Red Hat Enterprise Linux, VxWorks 7, Windows 10 ainsi que le logiciel de test FSP (pour les technologies BIT, Power-up Built-In Test, CBIT, Continuuous Built-In Test, et IBIT, Initiated Built-In Test) .