Afin de réaliser des mesures de haute précision des paramètres optiques conformes aux normes en transmission à 1,6 Terabit/s, l’oscilloscope optique à 4 voies du fournisseur d’instruments de test et mesure Anritsu, simplifie l'évaluation des émetteurs-récepteurs optiques avancés pour les centres de données qui gère des applicationss d'intelligence artificielle (IA).

Référencé MP2110A-080, cet appareil qui a été présenté lors de la manifestation ECOC 2025 qui s’est déroulée à Copenhague, du 29 septembre au 1er octobre 2025, est une option de l’oscilloscope à échantillonnage optique 60 GHz pour l’analyseur d’erreur de bit BERTWave MP2110A de la société.

Cette solution autorise une mesure précise des paramètres clés du signal optique, conformément aux normes industrielles, dans le cadre du développement et de la fabrication d'émetteurs-récepteurs optiques 200 Giga/voie et 1,6 Terabit utilisés dans les centres de données haute capacité et les infrastructures de gestion d’applications dIA.

Selon Anritsu, alors que les centres de données d'IA font passer les débits de transmission de 50 Gbauds à 100 Gbauds, les ingénieurs ont besoin de solutions de test capables d'évaluer avec précision les signaux des émetteurs-récepteurs optiques conformément aux exigences des normes. La difficulté dans ce cadre est la mise à l’échelle de la bande passante pour les systèmes à 200 G/voie. Une transition qui pose des défis fondamentaux en matière de mesure.

A ce niveau, les équipements de test traditionnels, selon Anritsu, ne disposent pas d’une bande passante suffisante pour capturer le contenu harmonique et les distorsions haute fréquence qui deviennent de plus en plus critiques à des débits s'appuyant sur la signalisation PAM4 de 100 Gbauds. Cette limitation de la bande passante complique, toujours selon Anritsu, la mesure précise des paramètres optiques, ce qui peut entrainer de ne pas détecter des caractéristiques importantes de systèmes sous test, lors de leur développement et de leur validation en fabrication.

Le passage de débits de données agrégés de 800 G à 1,6 T complique encore cette difficulté car plusieurs voies haut débit doivent être évaluées simultanément sans compromettre la précision des mesures ni les exigences de débit. L’architecture d'échantillonnage à 60 GHz de l’oscilloscope utilise un frontal d’échantillonnage optique à 60 GHz spécialement conçu pour capturer les composantes spectrales essentielles à la précision des mesures PAM4 TDECQ (Transmitter Dispersion Eye Closure Quaternary) à des débits de 200 G/voie.

Cette extension de bande passante permet aux ingénieurs de caractériser les mécanismes de dégradation des signaux haute fréquence, auparavant invisibles pour les instruments à faible bande passante. Et aussi de valider la conformité aux nouvelles normes 200 G/voie exigeant une mesure précise des pénalités de fermeture de l’œil. Sans oublier l’identification des interférences intersymboles qui se manifestent uniquement dans le domaine fréquentiel.

La prise en charge des signaux PAM4 jusqu’à 120 Gbauds, et la mesure simultanée sur 4 canaux, inhérentes à l’appareil permet la caractérisation d’émetteurs-récepteurs multivoies. Avec à la clé une réduction de la latence de mesure pour les applications de fabrication à haut débit, et le maintien de la précision des mesures TDECQ sur une bande passante étendue.