Tektronix automatise le test des interfaces électriques et optiques des réseaux 100G

Tektronix Test 100G

Les réseaux très haut débit du futur à 100 Gbit/s (100G), qu’ils reposent sur des systèmes optiques cohérents ou des communications sur cuivre, nécessitent des instruments de test et mesure adaptés au développement ...des circuits et sous-systèmes ad hoc. L’américain Tektronix profite justement de la tenue prochaine de la manifestation DesignCon à Santa Clara aux Etats-Unis (du 31 janvier au 2 février) pour proposer une solution de test automatisée des interfaces électriques des communications 100G basées sur 4 liens à 25 Gbit/s et définies dans les spécifications IEEE 802.3bm (sur cuivre) et 802.3bj (sur fibre optique).

Pour ce faire, Tektronix intègre une option de test, qui fait partie de la suite logicielle TekExpress, sur son oscilloscope à échantillonnage (ou à temps équivalent) DSA8300 et sur l’oscilloscope temps réel DPO70000SX, tous deux dotés d’une bande passante analogique d’entrée de 70 GHz. Les technologies 100GBase-CR4 (communications jusqu’à 7 mètres sur une paire torsadée en cuivre), 100GBase-KR4 (communications à très courte distance sur des fonds de panier), CAUI-4 (communications de circuit à circuit) sont supportées par la solution. Le DSA8300 offrant la particularité de pouvoir tester à la fois les communications sur cuivre et celles sur fibre optique (100GBase-SR4).

L’objectif de cet outil logiciel est de fournir aux développeurs une vision claire des exigences mises en avant par les spécifications IEEE 802.3bm et bj et de délivrer des rapports de caractérisation des communications 100 Gbit/s synthétiques et compréhensibles ente différentes équipes.

« Les dernières évolutions des réseaux Ethernet 100G, voire 400G, réclament la mise en œuvre de tests à la fois sur des interfaces optiques et électriques afin d’assurer une interopérabilité de fait entre ces solutions, explique Brian Reich, responsable des oscilloscopes de performance chez Tektronix. C’est ce que propose Tektronix en intégrant une suite automatisée de test à la fois sur un oscilloscope à échantillonnage et sur un oscilloscope temps réel. »