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Construire des couches d’abstraction logicielle et de mesure dans un système de test

Mis en ligne le 20 juin 2019 à 11:51           National Instruments

Les organisations de test dans le secteur de l'aérospatial et de la défense sont constamment confrontées à des délais serrés et à des coûts de maintenance logicielle élevés. Une architecture logicielle de test à plusieurs niveaux comprenant des couches d’abstraction peut augmenter la réutilisation du code, ce qui réduit le temps nécessaire au déploiement de nouveaux systèmes de test et limite les efforts de maintenance logicielle. Avec à la clé la réalisation d'économies de centaines de milliers d’euros.

Dans ce white paper, très complet et très détaillé, écrit en français sur 34 pages par National Instruments, vous découvrirez pas-à-pas pourquoi les couches d'abstraction matérielle et de mesure (HAL et MAL) comptent parmi les modèles de conception les plus efficaces pour rendre le logiciel de test aussi évolutif que le matériel.

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