Publié le 23 juin 2017 à 09:25 par François Gauthier
Test et mesure : retour sur quarante années d’innovation et perspectives d’avenir. Tel est le sous-titre d'un document inédit proposé par National Instruments à l'occasion du départ de son emblématique président et cofondateur, Dr James Truchard. ...
Publié le 20 juin 2017 à 08:55 par François Gauthier
Présentés lors de la manifestation NIWeek qui s’est déroulée à Austin (Texas) en mai, les châssis Ethernet à emplacements multiples cDAQ-9185 et cDAQ-9189 de National Instruments intègrent désormais des capacités de synchronisation temporelle reposant sur la technologie TSN ...
Publié le 01 juin 2017 à 12:53 par François Gauthier
Annoncé officiellement par National Instruments lors de la manifestation NIWeek 2017, qui s’est tenue à Austin (Texas) du 23 au 25 mai derniers, le logiciel de programmation graphique Labview NXG marque une étape importante dans la vie de cet outil qui a en grande partie fait la réputation de la société....
Publié le 24 mai 2017 à 08:42 par François Gauthier
Austin (Texas) - A l'occasion de sa grand-messe annuelle à Austin, National Instruments, société fondée en 1976 dans la ville texane par Dr James Truchard (remplacé au poste de CEO par Alex Davern depuis janvier 2017), a dévoilé la disponibilité du logiciel Labview NXG (pour NeXt Generation), ...
Publié le 10 avril 2017 à 12:48 par François Gauthier
National Instruments, fournisseur de systèmes matériels et logiciels de test et mesure, propose, avec la version 2.2 de son outil logiciel de test NI-RFmx pour systèmes de test RF au format PXI, des fonctions avancées pour analyser...
Publié le 12 janvier 2017 à 13:20 par François Gauthier
Innovation et collaboration. Tels sont les maîtres mots à l‘origine de la création d’un laboratoire de conception et de développement de systèmes et d’applications de l’IoT industriel que vient d’inaugurer National Instruments sur les lieux ...
Publié le 27 octobre 2016 à 13:26 par François Gauthier
Haute tension en entrée, haute vitesse d’échantillonnage et haute résolution, telles pourraient être résumées succinctement les caractéristiques de l’oscilloscope au format de cartes PXIe que National Instruments ajoute ...
Publié le 14 octobre 2016 à 12:42 par François Gauthier
Le fournisseur de systèmes matériels et logiciels de test et mesure National Instruments a profité de la manifestation European Microwave Week qui s’est tenue à Londres début octobre, pour présenter une solution de test ...
Publié le 11 octobre 2016 à 10:23 par François Gauthier
Le 18 octobre prochain, National Instruments organise à Toulouse, au centre de congrès Pierre Baudis, une journée technologique consacrée aux tendances dans les domaines du test automatique, des systèmes embarqués ...
Publié le 31 août 2016 à 11:49 par François Gauthier
Présentés lors de la manifestation NI Week, qui s’est déroulée en août à Austin aux Etats-Unis, les simulateurs HIL (Hardware-In-the-Loop) de nouvelle génération de National Instruments, basés sur des briques logicielles ...
Publié le 18 août 2016 à 11:47 par François Gauthier
Le fournisseur de solutions logicielles et matérielles de test et mesure National Instruments a décidé de collaborer avec ses compatriotes Cisco et Intel pour faciliter l’accès à la technologie de réseau industriel Ethernet temps réel ...
Publié le 01 juin 2016 à 12:57 par François Gauthier
Le fournisseur de systèmes matériels et logiciels de test & mesure National Instruments a décidé de prendre les devants vis-à-vis d’une évolution majeure du Wi-Fi, le 802.11ax, attendu en 2018. L'Américain propose ...
