Test et mesure : retour sur quarante années d’innovation et perspectives d’avenir. Tel est le sous-titre d'un document inédit proposé par National Instruments à l'occasion du départ de son emblématique président et cofondateur, Dr James Truchard. ...

A travers une série d'articles publiés de 2012 à 2015, précédés d'un long préambule écrit par Dr James Truchard, ce white paper en français de 16 pages retrace les grandes évolutions qui traversent le domaine du test et de la mesure, de l'optimisation des départements de test jusqu'aux systèmes de test "maniables", en passant par la montée en puissance d'écosystèmes logiciels et le déploiement d'une gamme d’instruments reconfigurables.

Une véritable feuille de route à méditer pour les ingénieurs d'aujourd'hui en prise avec les évolutions des systèmes cyberphysiques et des objets connectés.

N’hésitez pas à consulter ce white paper, à le télécharger, mais aussi à fouiller dans notre bibliothèque, d'ores et déjà riche d'une trentaine de documents et dotée de son propre moteur de recherche pour vous permettre de trouver plus vite l'information désirée.