La sonde de débogage de Segger traque en continu les données de trace sur les Cortex-M

La société allemande Segger, spécialiste des outils matériels et logiciels de débogage et de programmation de cibles embarquées, propose avec sa sonde physique J-Trace PRO, associée au logiciel de débogage Ozone, ...la possibilité d’enregistrer et d’analyser en continu une trace des données générées par les microcontrôleurs à cœur ARM Cortex-M. Objectif : assurer une diffusion en continu et en direct des données de projets basés sur un Cortex-M, afin d’optimiser la couverture et le profilage du code embarqué (le firmware en l’occurrence ici).

L’analyse de la couverture de code est une approche de plus en plus répandue pour le débogage des systèmes embarqués complexes utilisant des piles de communication comme Ethernet ou USB. En offrant la possibilité d’avoir accès à un flux continu de données de trace, la solution matérielle/logicielle proposée par Segger autorise une analyse complète de la couverture du code sur des périodes de temps très longues. Un plus lorsque les développeurs doivent détecter dans les applications des bogues intermittents qui apparaissent de manière aléatoire.

S'appuyant sur la technologie Embedded Trace Macrocell (ETM) d'ARM, la technologie de trace en direct est une méthode non intrusive de collecte des données ne nécessitant aucune instrumentation du code utilisateur. Quant aux données collectées en temps réel pendant la phase de développement par la sonde J-Trace PRO, elles sont visualisées via le débogueur Ozone de Segger. Les compteurs d’exécution des tâches, mis à jour en temps réel, sont présentés en regard du code embarqué et peuvent être analysés jusqu'au niveau instruction.

En termes de couverture de code, les lignes du logiciel embarqué qui ne sont jamais exécutées sont montrées à l’écran. La technologie permet aussi de mettre en lumière les zones de code peu utilisées ou inefficaces en vue d’une optimisation du firmware embarqué.

L’outil Ozone permet en outre un export des données collectées pour une analyse en profondeur a posteriori.