Vers une meilleure analyse des causes d’erreurs de l’électronique embarquée dans l’automobile ?

A partir de 2015, le temps passé par une automobile dans un garage pour réparer des pannes d’origine électronique devrait significativement baisser. Tel est le constat dressé par les participants du programme de recherche... allemand Diana, doté de 4,8 millions d’euros et conduit par le constructeur allemand Audi, l’équipementier Continental et les fournisseurs allemands de semiconducteurs Infineon et ZMDI depuis trois ans. 

L’objectif de ces travaux était d’améliorer les opérations d’analyse et de diagnostic du fonctionnement des ECU (Electronic Contol Unit) dans une automobile, dont le nombre dépasse déjà les quatre-vingts dans les modèles haut de gamme. Les retours d’expérience actuels montrent en effet qu’en cas de dysfonctionnement de l’électronique embarquée, la ou les causes de pannes sont mal identifiées, entraînant la plupart du temps un changement complet de l’ECU. Une méthode radicale, qui pourrait laisser la place dans l’avenir à une analyse rapide et fiable des causes des erreurs sporadiques ou persistantes des ECU, et à leurs corrections rapides. Et ce grâce aux méthodes développées dans le cadre du projet Diana.

Celles-ci consistent en particulier à implanter, directement au sein des ECU, des logiciels d’analyse capables d’étudier en continu le comportement du composant pendant l’utilisation du véhicule, et de fournir des informations, au niveau système, sur toute l’électronique embarquée dans la voiture, informations exploitables par les outils de test et d’analyse utilisés dans les garages. Avec, à la clé, des corrections ciblées et rapides sans changement de l’ECU.