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White paper : construire des couches d’abstraction logicielle et de mesure dans un système de test

Publié le 11 juillet 2019 à 12:07 par François Gauthier        Test & Validation National Instruments

L'Embarqué White Paper

Les organisations de test dans le secteur de l'aérospatial et de la défense sont constamment confrontées à des délais serrés et à des coûts de maintenance logicielle élevés. Une architecture logicielle de test à plusieurs niveaux comprenant des couches d’abstraction peut augmenter la réutilisation du code, ce qui réduit le temps nécessaire au déploiement de nouveaux systèmes de test et limite les efforts de maintenance logicielle. Avec à la clé la réalisation d'économies de centaines de milliers d’euros.

Dans ce white paper, très complet et très détaillé, écrit en français sur 34 pages par National Instruments, vous découvrirez pas-à-pas pourquoi les couches d'abstraction matérielle et de mesure (HAL, Hardware Abstraction Layer, et MAL, Measurement Abstraction Layer) comptent parmi les modèles de conception les plus efficaces pour rendre le logiciel de test aussi évolutif que le matériel.

N’hésitez pas à consulter ce white paper, à le télécharger, mais aussi à fouiller dans notre bibliothèque d'ores et déjà riche de plus de 50 documents et dotée de son propre moteur de recherche pour vous permettre de trouver plus vite l'information désirée.

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