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- Système de mesure de tests paramétriques

Pour sa troisième génération de solutions de test paramétrique P9000, Keysight Technologies introduit au sein du système complet P9000 le module P9015A dont les caractéristiques permettent de répondre à la tendance de l'augmentation des volumes de test et aux besoins de test des semi-conducteurs conçus avec des interconnexions multicouches.

- Mesure des valeurs des capacités de fuite

- Cible les procédés technologiques avancés pour les semi-conducteurs

- Assure la mesure en parallèle sur 100 broches

- Meilleure mesure capacitive par broche via le procédé DCM (Direct Charge Measurement)

- Test deux fois plus rapide par rapport au mesures LCR classiques

 

 

 

 

 

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