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NI pousse les performances de son oscilloscope PXIe pour les hautes tensions

Publié le 27 octobre 2016 à 13:26 par François Gauthier        Instrumentation modulaire NI

NI pousse les performances de son oscilloscope PXIe pour les hautes tensions

Haute tension en entrée, haute vitesse d’échantillonnage et haute résolution, telles pourraient être résumées succinctement les caractéristiques de l’oscilloscope au format de cartes PXIe que National Instruments ajoute à sa gamme d’instrumentation modulaire pour châssis PXI. L’oscilloscope PXIe-5164, c’est son nom, est conçu pour les applications dans les domaines de l’aérospatial, du test de semi-conducteurs, de la recherche en physique fondamentale, là où il y a un besoin de gérer de fortes tensions en entrée et une précision de mesure élevée.

Pour ce faire, cette carte oscilloscope qui intègre un FPGA (un Kintex-7 410T de Xilinx) pour le traitement des données (filtrage, déclenchement…) offre sur deux entrées, dans un seul emplacement PXI, une gamme de mesure de tension pic à pic de 100 V, une vitesse d’échantillonnage des donnés de 1 Géch./s pour une bande passante de 400 GHz et une résolution sur 14 bits des données numérisées.

Sur les deux entrées disponibles, la gamme de valeur de tension disponible va de -250 V à +250 V. Jusqu’à 34 canaux d’entrée peuvent être couplés dans un châssis PXI pour bâtir des systèmes de test complexes.

Enfin, des flux de données jusqu’à 3,2 Gbit/s sont supportés par la carte via 8 liens PCI Express Gen2 en fond de panier.

Lors des campagnes de mesure, les utilisateurs peuvent visualiser les données acquises et réaliser directement des mesures basiques via le logiciel NI Scope installé sur une station de travail, pendant que le programme de test complet fonctionne sur la carte. Tests qui peuvent être programmés avec l’environnement de conception de séquences de test TestStand de National Instruments.

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