National Instruments, fournisseur de systèmes de test et mesure à base de plates-formes modulaires, a développé un système de test, d'expérimentation et de prototypage des nouvelles technologies d'accès sans fil LTE Unlicensed ...(LTE-U) et/ou License Assisted Access (LAA), des technologies présentées comme nécessaires à l'amélioration de la 4G et aptes à faciliter la transition vers la 5G. Dévoilé lors du dernier Mobile World Congress, ce banc d'essai temps réel inclut une couche physique LTE installée sur un FPGA dans le code source, de sorte que différents scénarios LTE-U et LAA puissent être testés, évalués et enrichis pour estimer les performances et augmenter les débits de données de systèmes reposant sur les infrastructures LTE et 802.11 (Wi-Fi) existantes.
Rappelons que les standards LTE-U et LAA utilisent la bande ISM des 5 GHz non soumise à licence pour étendre le spectre cellulaire. Avec cette approche, les appareils compatibles avec le LTE-U et le LAA "partagent" le spectre avec les équipements Wi-Fi de type 802.11a et 802.11ac. Le groupe de spécifications techniques du projet 3GPP s'intéresse particulièrement à la norme LAA car, contrairement au LTE-U qui est soumis à la réglementation locale de chaque pays en matière de spectre, le LAA est applicable à l'échelle mondiale.
D’un point de vue technique, le banc de test proposé par National Instruments s’appuie sur deux systèmes de radio logicielle USRP RIO de la société (référencés USRP-2953R) et sur la suite de programmation graphique LabView Communications System Design.
« Plusieurs suggestions ont été incluses au standard 3GPP proposé pour minimiser les interférences avec les utilisateurs de bandes non soumises à licence, explique James Kimery, directeur du service Recherche RF et radio logicielle chez NI. En conséquence, il est nécessaire de mener des phases de prototypage et de test avec de grandes applications pour faciliter l'adoption d'une nouvelle norme. Dans ce cadre, le banc d'essai LTE-U/LAA de NI permettra aux chercheurs d'évaluer l'impact de cette nouvelle norme dans des conditions de test spécifiques. »
